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[Information]
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; (Latest Translator, First Translator, Second Translator ...)
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TRANSLATOR=Intervenor, CrcbAk, chriszxl (小良奇), Ericus
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VERSION=6.2.0
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[Language]
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LANGUAGE=简体中文
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CHARACTER_CODE=Unicode (UTF-16, LE, w/ BOM)
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; Local ID : http://msdn.microsoft.com/en-us/library/ms912047(WinEmbedded.10).aspx
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||
LOCALE_ID=0x0804
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[Url]
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WIKIPEDIA_SMART=http://en.wikipedia.org/wiki/Self-Monitoring%2C_Analysis_and_Reporting_Technology
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[Menu]
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FILE=文件(&F)
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CUSTOMIZE=自定义(&C)
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EXIT=退出(&E)
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EDIT=编辑(&E)
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COPY=复制(&C)
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FUNCTION=功能(&u)
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HIDE_SMART_INFO=隐藏 S.M.A.R.T. 信息(&S)
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HIDE_SERIAL_NUMBER=隐藏序列号(&N)
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SHOW_DRIVE_LETTER=显示序列号(&L)
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ADVANCED_DISK_SEARCH=高级硬盘搜索(&A)
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EVENT_LOG=日志(&v)
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AAM_APM_CONTROL=AAM/APM 控制(&M)
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AUTO_AAM_APM_ADAPTION=自适应 AAM/A&PM(&PM)
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RESIDENT=常驻(&i)
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STARTUP=开机时自动启动(&S)
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OPEN_DISK_MANAGEMENT=打开“磁盘管理”(&D)
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OPEN_DEVICE_MANAGER=打开“设备管理器”(&M)
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ADVANCED_FEATURE=高级特征(&F)
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REFRESH=刷新(&R)
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RESCAN=重新扫描(&c)
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DISABLE=禁用(&D)
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AUTO_REFRESH=自动刷新间隔(&A)
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AUTO_REFRESH_TARGET=自动刷新对象(&T)
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AUTO_REFRESH_TARGET_ALL_DISK=自动刷新 - 选择所有硬盘(&g)
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AUTO_REFRESH_UNTARGET_ALL_DISK=自动刷新 - 取消选择所有硬盘(&U)
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WAIT_TIME_AT_STARTUP=开机自动运行延迟时间(&W)
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GRAPH=图表(&G)
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THEME=主题(&T)
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DISK=硬盘(&D)
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HELP=帮助(&H)
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HELP_WEB=帮助 [网页](&H)
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HELP_ABOUT=关于 CrystalDiskInfo (&A)
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HELP_ABOUT_SMART=关于 S.M.A.R.T. (Wikipedia) [网页](&S)
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LANGUAGE=语言(&L)
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ITEM=项目(&I)
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TEMPERATURE_TYPE=温度类型(&e)
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CELSIUS=摄氏(°C)
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FAHRENHEIT=华氏(°F)
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HEALTH_STATUS_SETTING=健康状态阙值设置(&H)
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;Graph
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OPTION=选项(&O)
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LEGEND_POSITION=图例位置(&L)
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NORTH_WEST=西北(&N)
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NORTH_EAST=东北(&E)
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SOUTH_WEST=西南(&W)
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SOUTH_EAST=东南(&S)
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MAX_PLOT_POINT=最大绘图点(&M)
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TIME_FORMAT=时间格式(&T)
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PAINT_WEEKEND=绘制周末(&P)
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ALL=全部(&A)
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;2.7.0
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COPY_OPTION=复制选项(&O)
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RESIDENT_STYLE=常驻样式(&y)
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MINIMIZE=最小化
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HIDE=隐藏
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;3.0.0
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ZOOM=窗口缩放(&Z)
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AUTO=自动(&A)
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ATTRIBUTE=属性(&A)
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;3.5.0
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ASCII_VIEW=以 ASCII 显示
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AUTO_DTECTION=自动检测
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SECOND=秒
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MINUTE=分钟
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HOUR=小时
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:3.9.4
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WORKAROUND=解决方案(&o)
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;4.0.0
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ALERT_MAIL=警告邮件
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MAIL_SETTINGS=邮件设置
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SMART_IN_ENGLISH=用英文显示 S.M.A.R.T.
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FONT_SETTING=字体设置
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;5.0.0
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ALERT_FEATURES=警告功能(&l)
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ALARM_HISTORY=警报历史
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ALERT_SOUND=警告声音
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SOUND_SETTINGS=声音设置
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GADGET_SUPPORT=桌面小工具支持
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INSTALL_GADGET=安装桌面小工具
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ENABLE_AUTO=启用 (自动检测)
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ENABLE_ALL=启用 (所有硬盘)
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ENABLE_RAID=启用 (仅 RAID 卷)
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;6.0.0
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HIDE_NO_SMART_DISK=隐藏没有 S.M.A.R.T. 的硬盘(&H)
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GREEN_MODE=绿色样式(&G)
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[TrayMenu]
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EXIT=退出
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REFRESH=刷新
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RESCAN=重新扫描
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ENABLE=启用
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DISABLE=禁用
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ENABLE_ALL=全部启用
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DISABLE_ALL=全部禁用
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AUTO_REFRESH=自动刷新间隔
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AUTO_REFRESH_01_MIN=1 分钟
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AUTO_REFRESH_03_MIN=3 分钟
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AUTO_REFRESH_05_MIN=5 分钟
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AUTO_REFRESH_10_MIN=10 分钟
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AUTO_REFRESH_30_MIN=30 分钟
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||
AUTO_REFRESH_60_MIN=60 分钟
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||
AUTO_REFRESH_TARGET=自动刷新对象
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AUTO_REFRESH_TARGET_ALL_DISK=自动刷新 - 选择所有硬盘
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AUTO_REFRESH_UNTARGET_ALL_DISK=自动刷新 - 取消选择所有硬盘
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ALARM_SETTING_TEMPERATURE=警报设置 - 温度
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ALARM_SETTING_HEALTH_STATUS=警报设置 - 健康状态
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||
SHOW_MAIN_WINDOW=显示主窗口
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SHOW_TEMPERATURE_ICON=显示温度图标
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SHOW_ALL_TEMPERATURE_ICON=显示所有温度图标
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||
HIDE_ALL_TEMPERATURE_ICON=隐藏所有温度图标
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COLLECTIVE_SETTING=通用设置
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GRAPH=图表
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;Added 3.0
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SHOW_TEMPERATURE_ICON_ONLY=仅显示温度图标
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[DiskStatus]
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GOOD=良好
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CAUTION=警告
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BAD=不良
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UNKNOWN=未知
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DISK=硬盘
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[Dialog]
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LIST_ID=ID
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LIST_CURRENT=当前值
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LIST_WORST=最差值
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LIST_THRESHOLD=临界值
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LIST_RAW_VALUES=原始值
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;LIST_DESCRIPTION=描述
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LIST_ATTRIBUTE_NAME=属性名称
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FIRMWARE=固件
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SERIAL_NUMBER=序列号
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INTERFACE=接口
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STANDARD=标准
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TRANSFER_MODE=传输模式
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BUFFER_SIZE=缓冲区大小
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NV_CACHE_SIZE=非易失性缓存大小
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ROTATION_RATE=转速
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TEMPERATURE=温度
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POWER_ON_HOURS=通电时间
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POWER_ON_COUNT=通电次数
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DRIVE_LETTER=驱动器号
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FEATURE=支持的功能
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HEALTH_STATUS=健康状态
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||
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UNKNOWN=未知
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POWER_ON_COUNT_UNIT=次
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POWER_ON_HOURS_UNIT=小时
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POWER_ON_DAYS_UNIT=天
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;4.3
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||
TOTAL_HOST_WRITES=主机写入量总计
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TOTAL_HOST_READS=主机读取量总计
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TOTAL_NAND_WRITES=对 NAND 写入量总计
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;4.5
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WEAR_LEVELING_COUNT=闪存磨损平均计数
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;6.1
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CURRENT_MODE_SUPPORTED_MODE=当前的传输模式 | 支持的传输模式
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MAJOR_VERSION_MINOR_VERSION=主要版本 | 次要版本
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[Message]
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DETECT_UNIT_POWER_ON_HOURS=正在检测“通电时间”项目的单位(需要大约 130 秒)
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||
DETECT_DISK=正在检测硬盘
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||
PLEASE_ENABLE_WMI=请启用 WMI (Windows 管理规范)
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||
PLEASE_RESTART_THIS_APPLICATION=请重新启动程序以更换主题
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||
DISK_NOT_FOUND=没有找到硬盘
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||
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||
[Alarm]
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ALARM_TEMPERATURE=警报 - 温度
|
||
ALARM_HEALTH_STATUS=警报 - 健康状态
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||
DEGRADATION=性能降级
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||
RECOVERY=恢复
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||
;3.5.0
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||
INFO_HEALTH_STATUS=信息 - 健康状态
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||
[Graph]
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||
PLEASE_SELECT_ITEM=请选择项目
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||
ACTUAL_VALUE=真实值(原始值)
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||
NORMALIZED_VALUE=规范化值(当前值)
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ALL_ON=打开全部
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||
ALL_OFF=关闭全部
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||
RESET=重置
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||
[Customize]
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||
LINE_COLOR=线颜色
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BACKGROUND_IMAGE=背景图片
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SUPPORTED_IMAGE_FORMAT=支持的图片格式
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ALL_FILES=所有文件
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||
;5.0.0
|
||
SUPPORTED_SOUND_FORMAT=支持的声音格式
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||
[AamApm]
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||
AAM_LOW=<- 安静模式 (80h)
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||
AAM_HIGH=性能模式 (FEh) ->
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||
AAM_RECOMMEND=推荐值
|
||
APM_LOW=<- 省电模式 (01h)
|
||
APM_HIGH=性能模式 (FEh) ->
|
||
;3.5.0
|
||
AUTOMATIC_ACOUSTIC_MANAGEMENT=自动噪音管理(AAM)
|
||
ADVANCED_POWER_MANAGEMENT=高级电源管理(APM)
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||
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||
[WindowTitle]
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ABOUT=关于 CrystalDiskInfo
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GRAPH=图表
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CUSTOMIZE=自定义
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||
VERSION_INFORMATION=版本信息
|
||
AAM_APM_CONTROL=AAM/APM 控制项
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HEALTH_STATUS_SETTING=健康状态设置
|
||
|
||
;5.0.0
|
||
ALARM_HISTORY=警报历史
|
||
SOUND_SETTINGS=声音设置
|
||
|
||
;5.1.0
|
||
FONT_SETTING=字体设置
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||
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||
[HealthStatus]
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THRESHOLD_OF_CAUTION=警告临界值
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||
APPLY=应用
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DEFAULT=默认
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[Smart]
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UNKNOWN=未知项目
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VENDOR_SPECIFIC=厂商特定项目
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01=读取错误率
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02=吞吐性能
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03=起转时间
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04=启动-停止次数
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05=重新分配扇区计数
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||
06=读取通道余量
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07=寻道错误率
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||
08=寻道时间性能
|
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09=通电时间
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||
0A=起转重试次数
|
||
0B=重新校准重试次数
|
||
0C=启动-关闭循环次数
|
||
0D=软读取错误率探针
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||
B8=端到端错误
|
||
BB=报告的无法修正错误
|
||
BC=命令超时
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||
BD=磁头非正常高度写入
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BE=气流温度
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||
BF=加速度感应错误率
|
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C0=断电磁头缩回计数
|
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C1=磁头加载/卸载循环计数
|
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C2=温度
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||
C3=硬件 ECC 已修复错误计数
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||
C4=重新分配扇区物理位置事件计数(与坏道有关)
|
||
C5=当前等待中扇区数(状态存疑/不稳定-等待后续判断)
|
||
C6=无法修正的扇区总数
|
||
C7=UltraDMA CRC 错误计数(与接口/线材质量有关)
|
||
C8=写入错误率
|
||
C9=软读取错误率
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||
CA=数据地址标记错误
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CB=ECC 错误率
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CC=软 ECC 校正
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CD=热骚动率(极端高温导致的错误)
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CE=磁头飞行高度
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CF=起转最大电流
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D0=起转蜂鸣/起转阶梯(欠压启动时马达加速的流程数)
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D1=离线寻道性能
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D3=写入时的振动(振荡)
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D4=写入时的震动(冲击)
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DC=盘片位移
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DD=加速度感应错误率
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DE=负载小时数(磁头架移动中的时间)
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DF=加载/卸载重试计数
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E0=加载摩擦
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E1=加载/卸载循环计数
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E2=加载的时间(磁头架在工作位置的时间)
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E3=扭矩放大计数
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E4=断电磁头缩回计数
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E6=巨磁阻磁头振幅
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E7=温度
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F0=磁头飞行小时数
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FA=读取错误重试率
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FE=自由落体保护
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||
;Updated 5.4.0
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F1=主机写入量总计
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F2=主机读取量总计
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[SmartSsd]
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01=读取错误率
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02=吞吐性能
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03=启动时间
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04=启动-停止次数
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05=重新分配扇区计数
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06=读取通道余量
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||
07=寻址错误率
|
||
08=寻址时间性能
|
||
09=通电时间
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||
0A=启动重试次数
|
||
0B=重新校准重试次数
|
||
0C=启动-关闭循环次数
|
||
0D=软读取错误率探针
|
||
C0=不安全关机计数
|
||
C2=温度
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||
C4=重新分配扇区物理位置事件计数
|
||
C5=当前等待中扇区数(状态存疑/不稳定-等待后续判断)
|
||
C6=无法修正的扇区总数
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; CrystalDiskInfo assign
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FF=剩余寿命
|
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;Updated 5.4.0
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||
F1=主机写入量总计
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F2=主机读取量总计
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[SmartMtron]
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BB=擦除次数总计
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[SmartIndlinx]
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01=读取错误率
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09=通电时间
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||
0C=启动-关闭循环次数
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B8=出厂坏块计数
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C2=温度
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C3=编程失败块数
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||
C4=擦除失败块数
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||
C5=读取失败块数
|
||
C6=读取扇区数总计
|
||
C7=写入扇区数总计
|
||
C8=读取命令数总计
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||
C9=写入命令数总计
|
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CA=来自闪存的错误位元数总计
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CB=读取含可修正位元错误的扇区数总计
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CC=坏块满标志
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CD=最大 P/E 次数规格
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CE=最小擦除次数
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CF=最大擦除次数
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D0=平均擦除次数
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D1=剩余使用寿命
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[SmartJMicron60x]
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09=通电时间
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0C=启动-关闭循环次数
|
||
C2=温度
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||
E5=中止系统 ID,闪存 ID
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E8=固件版本信息
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E9=ECC 失败记录
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EA=平均擦除次数,最大擦除次数
|
||
EB=良好块计数,系统块计数
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[SmartIntel]
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03=启动时间
|
||
04=启动-停止次数
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||
05=重新分配扇区计数
|
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09=通电时间
|
||
0C=启动-关闭循环次数
|
||
C0=不安全关闭计数
|
||
E1=主机写入
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||
E8=可用保留空间
|
||
E9=介质磨损指示器
|
||
B8=端到端错误检测计数
|
||
|
||
;Updated 4.1.0
|
||
AA=可用保留空间
|
||
AB=编程失败计数
|
||
AC=擦除失败计数
|
||
BB=无法校正错误计数
|
||
|
||
;Updated 4.3.0
|
||
AE=意外断电
|
||
E2=单次工作介质磨损
|
||
E3=单次工作主机读写中“读操作”占的比率
|
||
E4=单次工作计时器
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||
F1=LBA(逻辑区块地址)写入量总计
|
||
F2=LBA(逻辑区块地址)读取量总计
|
||
F9=NAND 写入量总计
|
||
|
||
;Updated 5.5.0
|
||
B7=SATA 性能降级计数
|
||
BE=温度
|
||
C7=CRC 错误计数
|
||
|
||
;Updated 5.6.1
|
||
AF=掉电保护失败
|
||
C2=温度
|
||
C5=当前等待中扇区数(状态存疑/不稳定-等待后续判断)
|
||
|
||
;Added 6.6.0
|
||
EA=Thermal Throttle Status
|
||
|
||
[SmartSamsung]
|
||
05=重新分配扇区计数
|
||
09=通电时间
|
||
0C=通电次数
|
||
AF=编程失败计数(芯片)
|
||
B0=擦除失败计数(芯片)
|
||
B1=闪存磨损平均计数
|
||
B2=已使用的保留块计数(芯片)
|
||
B3=已使用的保留块计数(总计)
|
||
B4=未使用的保留块计数(总计)
|
||
B5=编程失败计数(总计)
|
||
B6=擦除失败计数(总计)
|
||
B7=运行中的坏块(总计)
|
||
BB=无法校正错误计数
|
||
BE=气流温度
|
||
C2=温度
|
||
C3=ECC 错误率
|
||
C6=离线无法校正错误计数
|
||
C7=CRC 错误计数
|
||
C9=超级电容状态
|
||
CA=SSD 模式状态
|
||
EB=电源恢复计数(意外断电的次数)
|
||
F1=LBA(逻辑区块地址)写入量总计
|
||
F2=LBA(逻辑区块地址)读取量总计
|
||
|
||
;Added 6.6
|
||
AA=未使用保留块计数(芯片)
|
||
AB=编程失败计数(芯片)
|
||
AC=擦除失败计数(芯片)
|
||
AD=闪存磨损平均计数
|
||
AE=意外断电计数
|
||
B8=错误检测
|
||
E9=标准化后的介质磨损
|
||
|
||
[SmartSandForce] ;Updated 3.7.0
|
||
01=原始读取错误率
|
||
05=已隔离老化块计数
|
||
09=通电时间
|
||
0C=启动-关闭循环次数
|
||
0D=软读取错误率
|
||
64=已擦除 GB 数
|
||
AA=保留块计数
|
||
AB=编程失败计数
|
||
AC=擦除失败计数
|
||
AE=意外断电计数
|
||
B1=磨损范围增量(磨损最严重块与磨损最轻块的磨损差异百分比)
|
||
B5=编程失败计数
|
||
B6=擦除失败计数
|
||
B8=已报告的 I/O 检错码错误
|
||
BB=已报告的无法校正错误
|
||
C2=温度
|
||
C3=自适应 ECC 无法校正错误计数
|
||
C4=重新分配扇区物理位置事件计数
|
||
C6=无法校正扇区计数
|
||
C7=SATA 除错(CRC)错误计数
|
||
C9=无法校正的软读取错误率
|
||
CC=软 ECC 校正率
|
||
E6=寿命曲线状态
|
||
E7=SSD 剩余寿命
|
||
E8=可用保留空间
|
||
EB=超级电容健康状态
|
||
F1=全周期主机写入量总计
|
||
F2=全周期主机读取量总计
|
||
|
||
[SmartJMicron61x] ;Added 3.9.0
|
||
01=读取错误率
|
||
02=吞吐性能
|
||
03=启动时间
|
||
05=重新分配扇区计数
|
||
07=寻址错误率
|
||
08=寻址时间性能
|
||
09=通电时间
|
||
0A=启动重试次数
|
||
0C=启动-关闭循环次数
|
||
A8=SATA 物理层错误计数
|
||
AF=坏簇表计数(ECC 失败计数)
|
||
C0=意外断电次数
|
||
C2=温度
|
||
C5=当前等待中扇区数(状态存疑/不稳定-等待后续判断)
|
||
AA=坏块计数
|
||
AD=擦除计数
|
||
|
||
[SmartMicron] ;Added 4.0.0/ Updated 6.1.0
|
||
; RAIN = Redundant Array of Independent NAND (独立 NAND 冗余阵列)
|
||
01=底层读取错误率
|
||
05=重新分配扇区计数
|
||
09=通电时间
|
||
0C=启动-关闭循环次数
|
||
0D=软错误率
|
||
0E=设备容量(NAND)
|
||
0F=用户可用容量
|
||
10=可用备用块
|
||
11=剩余的备用块
|
||
64=擦除次数总计
|
||
AA=保留块计数
|
||
AB=编程失败计数
|
||
AC=擦除失败计数
|
||
AD=平均块擦除计数
|
||
AE=意外断电计数
|
||
B4=未使用的 NAND 保留块
|
||
B5=未对齐访问计数
|
||
B7=SATA 接口性能降级
|
||
B8=错误校正计数
|
||
BB=报告的无法校正错误
|
||
BC=命令超时计数
|
||
BD=出厂坏块计数
|
||
C2=温度
|
||
C3=ECC 位元校正累计
|
||
C4=重新分配扇区物理位置事件计数
|
||
C5=当前等待中扇区数(状态存疑/不稳定-等待后续判断)
|
||
C6=智能离线扫描无法校正的错误计数
|
||
C7=Ultra DMA CRC 错误率
|
||
CA=已使用寿命百分比
|
||
CE=写入错误率
|
||
D2=RAIN(独立 NAND 冗余阵列)成功恢复计数
|
||
EA=读取字节数总计
|
||
F2=距离“禁止写入模式”的剩余备用块数
|
||
F3=ECC 已校正的位元数
|
||
F4=ECC 临界事件数累计(错误率达到/超过ECC校正能力极限的次数)
|
||
F5=累计编程 NAND 页数
|
||
F6=主机扇区写入总计
|
||
F7=主机编程页数
|
||
F8=FTL(闪存转换层)编程页数
|
||
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||
[SmartMicronMU02] ;Updated 6.6.0
|
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; RAIN = Redundant Array of Independent NAND
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01=Raw Read Error Rate
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||
05=Reallocated Sectors Count
|
||
09=Power-On Hours
|
||
0C=Power Cycle Count
|
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0D=Soft Error Rate
|
||
0E=Device Capacity (NAND)
|
||
0F=User Capacity
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||
10=Spare Blocks Available
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11=Remaining Spare Blocks
|
||
64=Total Erase Count
|
||
AA=Reserved Block Count
|
||
AB=Program Fail Count
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||
AC=Erase Fail Count
|
||
AD=Average Block-Erase Count
|
||
AE=Unexpected Power Loss Count
|
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B4=Unused Reserve NAND Blocks
|
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B7=SATA Interface Downshift
|
||
B8=Error Correction Count
|
||
BB=Reported Uncorrectable Errors
|
||
BC=Command Timeout Count
|
||
BD=Factory Bad Block Count
|
||
C2=Temperature
|
||
C3=Cumulative ECC Bit Correction Count
|
||
C4=Reallocation Event Count
|
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C5=Current Pending Sector Count
|
||
C6=Smart Off-line Scan Uncorrectable Error Count
|
||
C7=Ultra DMA CRC Error Rate
|
||
CA=Percent Lifetime Used
|
||
CE=Write Error Rate
|
||
D2=Successful RAIN Recovery Count
|
||
EA=Total Bytes Read
|
||
F3=ECC Bits Corrected
|
||
F4=ECC Cumulative Threshold Events
|
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F5=Cumulative Program NAND Pages
|
||
F6=Total Host Sector Writes
|
||
F7=Host Program Page Count
|
||
F8=Background Program Page Count
|
||
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||
; Updated 6.6.0
|
||
A0=Uncorrectable Sector Count
|
||
A1=Valid Spare Blocks
|
||
A3=Initial Invalid Blocks
|
||
94=Total SLC Erase Count
|
||
95=Maximum SLC Erase Count
|
||
96=Minimum SLC Erase Count
|
||
97=Average SLC Erase Count
|
||
A4=Total TLC Erase Count
|
||
A5=Maximum TLC Erase Count
|
||
A6=Minimum TLC Erase Count
|
||
A7=Average TLC Erase Count
|
||
A9=Percentage Lifetime Remaining
|
||
B5=Program Fail Count
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||
B6=Erase Fail Count
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C0=Power-off Retract Count
|
||
E8=Available Reserved Space
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||
F1=Total LBA Write
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||
F2=Total LBA Read
|
||
F5=Total TLC Write Count
|
||
F6=Total SLC Write Count
|
||
F7=RAID Recovery Count
|
||
|
||
[SmartOcz] ;Added 4.5.0
|
||
01=原始读取错误率
|
||
03=启动时间
|
||
04=启动-停止次数
|
||
05=重新分配扇区计数
|
||
09=通电小时
|
||
0C=启动-关闭循环次数
|
||
C2=温度
|
||
E8=写入扇区数总计
|
||
E9=剩余寿命
|
||
|
||
; Added 6.6.0
|
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64=Total Blocks Erased
|
||
A7=SSD Protect Mode
|
||
A8=SATA PHY Error Count
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||
A9=Bad Block Count
|
||
AD=Erase Count
|
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B8=Factory Bad Block Count
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C0=Unexpected Power Loss Count
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CA=Total Number of Corrected Bits
|
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CD=Max Rated PE Counts
|
||
CE=Minimum Erase Counts
|
||
CF=Maximum Erase Counts
|
||
D3=SATA Uncorrectable Error Count
|
||
D4=NAND Page Reads During Retry
|
||
D5=Simple Read Retry Attempts
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||
D6=Adaptive Read Retry Attempts
|
||
DD=Internal Data Path Uncorrectable Errors
|
||
DE=RAID Recovery Count
|
||
E6=Power Loss Protection
|
||
FB=NAND Read Count
|
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|
||
;Updated 6.7.0
|
||
F1=Total Host Writes
|
||
F2=Total Host Reads
|
||
|
||
[SmartPlextor] ;Added 5.1.0
|
||
01=读取错误率
|
||
05=重新分配扇区计数
|
||
09=通电时间
|
||
0C=启动-关闭循环次数
|
||
C0=不安全关机次数
|
||
C2=温度
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||
C4=重新分配扇区物理位置事件计数
|
||
C6=不可校正扇区计数
|
||
F1=主机写入量总计
|
||
F2=主机读取量总计
|
||
|
||
;Updated 5.4.0
|
||
B1=闪存磨损平均计数
|
||
B2=已使用保留区块计数(最坏情况)
|
||
B5=编程失败计数(总计)
|
||
B6=擦除失败计数(总计)
|
||
BB=无法校正错误计数
|
||
C7=Ultra DMA CRC 错误计数
|
||
E8=可用保留空间
|
||
|
||
;Added 6.2.0
|
||
AA=新增坏块
|
||
AB=编程失败计数(总计)
|
||
AC=擦除失败计数(总计)
|
||
AD=平均编程/擦除(P/E)计数(总计)
|
||
AE=意外断电计数
|
||
AF=编程失败计数(最坏情况)
|
||
B0=擦除失败计数(最坏情况)
|
||
B3=已使用保留块计数(总计)
|
||
B4=未使用保留块计数(总计)
|
||
B7=SATA 界面性能降级
|
||
B8=已校正的端到端数据错误
|
||
BC=命令超时
|
||
C3=纠错码(ECC) 等级
|
||
E9=写入 NAND 的 GB 数
|
||
|
||
[SmartSanDisk] ;Added 5.2.0
|
||
05=已隔离的老化块计数
|
||
09=通电时间
|
||
0C=启动-关闭循环次数
|
||
AA=保留块计数
|
||
AB=编程失败计数
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||
AC=擦除失败计数
|
||
AE=意外断电计数
|
||
BB=报告的无法校正错误
|
||
C2=温度
|
||
E8=剩余寿命
|
||
F1=主机写入量总计
|
||
F2=主机读取量总计
|
||
|
||
[SmartOczVector] ;Added 5.3.0
|
||
05=运行中坏块累计
|
||
09=通电时间
|
||
0C=启动-关闭循环次数
|
||
AB=可用冗余块计数
|
||
AE=启动-关闭循环次数(意外)
|
||
BB=NAND 无法校正读取总计
|
||
C2=温度
|
||
C3=编程失败总计
|
||
C4=擦除失败总计
|
||
C5=读取失败总计(无法校正)
|
||
C6=主控读取
|
||
C7=主控写入
|
||
D0=擦除计数平均值
|
||
D2=SATA CRC 错误计数
|
||
E9=剩余寿命
|
||
F9=NAND 编程次数总计
|
||
|
||
;Updated 5.5.0
|
||
F1=主机写入量总计
|
||
F2=主机读取量总计
|
||
|
||
;Updated 6.6.0
|
||
64=Total Blocks Erased
|
||
B8=Factory Bad Block Count Total
|
||
CA=Total Number Of Read Bits Corrected
|
||
CD=Max Rated PE Count
|
||
CE=Min Erase Count
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CF=Max Erase Count
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||
D4=Total Count NAND Pages Reads Requiring Read Retry
|
||
D5=Total Count of Simple Read Retry Attempts
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||
D6=Total Count of Adaptive Read Retry Attempts
|
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DD=Internal Data Path Protection Uncorrectable Errors
|
||
DE=RAID Recovery Count
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||
E0=In Warranty
|
||
E1=DAS Polarity
|
||
E2=Partial Pfail
|
||
E6=Write Throttling Activation Flag
|
||
F9=Total NAND Programming Count (pages)
|
||
FB=Total NAND Read Count
|
||
|
||
[SmartCorsair] ;Added 6.2.0
|
||
01=原始读取错误率
|
||
05=已隔离的老化块计数
|
||
09=通电时间
|
||
0C=启动-关闭循环次数
|
||
AA=保留块计数
|
||
AC=擦除失败计数
|
||
AE=意外断电计数
|
||
B5=编程失败计数
|
||
BB=报告的无法校正错误
|
||
C2=温度
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||
C4=重新分配扇区物理位置事件计数
|
||
E7=固态硬盘剩余寿命
|
||
F1=全周期写入量(GB 数)
|
||
F2=全周期读取量(GB 数)
|
||
|
||
[SmartToshiba] ;Added 6.2.0
|
||
01=读取错误率
|
||
02=吞吐性能
|
||
03=启动时间
|
||
04=启动-停止次数
|
||
05=重新分配扇区计数
|
||
07=寻道错误率
|
||
08=寻道时间性能
|
||
09=通电小时数
|
||
0A=启动重试次数
|
||
0B=重新校准重试次数
|
||
0C=启动-关闭循环次数
|
||
A7=固态硬盘保护模式
|
||
A8=SATA 物理层错误计数
|
||
A9=坏块数总计
|
||
AD=擦除计数
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||
C0=意外断电计数
|
||
C2=温度
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||
C4=重新分配扇区物理位置事件计数(与坏块有关)
|
||
C5=当前等待中扇区数(状态存疑/不稳定-等待后续判断)
|
||
C6=无法修正的扇区总数
|
||
F1=主机写入量总计
|
||
F2=主机读取量总计
|
||
|
||
[SmartSanDiskGb] ;Added 6.2.0
|
||
05=重新分配块计数
|
||
09=通电时间
|
||
0C=启动-关闭循环次数
|
||
A6=最小写入/擦除循环数
|
||
A7=裸片中最大坏块数
|
||
A8=最大擦除循环
|
||
A9=坏块总计
|
||
AB=编程失败计数
|
||
AC=擦除失败计数
|
||
AD=平均擦除循环
|
||
AE=意外断电计数
|
||
BB=报告的无法校正错误
|
||
C2=温度
|
||
D4=SATA 物理层错误计数
|
||
E6=编程/擦除(P/E)总计 (百分比)
|
||
E8=剩余备用块
|
||
E9=对 NAND 写入量总计(GB 数)
|
||
F1=写入量总计(GB 数)
|
||
F2=读取量总计(GB 数)
|
||
|
||
[SmartKingston] ;Added 6.6.0
|
||
01=Read Error Rate
|
||
02=Throughput Performance
|
||
03=Spin Up Time
|
||
05=Reallocated Sectors Count
|
||
07=Seek Error Rate
|
||
08=Seek Time Performance
|
||
09=Power-On Hours
|
||
0A=Spin Retry Count
|
||
0C=Power Cycle Count
|
||
A8=SATA PHY Error Count
|
||
AA=Bad Block Count
|
||
AD=Erase count
|
||
AF=Bad Cluster Table Count
|
||
BB=Uncorrectable Errors
|
||
C0=Unsafe Shutdown Count
|
||
C2=Temperature
|
||
C4=Later Bad Block Count
|
||
C5=Current Pending Sector Count
|
||
C7=CRC Error Count
|
||
DA=CRC Error Count
|
||
E7=SSD Life Left
|
||
E9=Lifetime Writes to Flash
|
||
F0=Write Head
|
||
F1=Host Writes
|
||
F2=Host Reads
|
||
F4=Average Erase Count
|
||
F5=Max Erase Count
|
||
F6=Total Erase Count
|
||
|
||
[SmartNVMe] ;Added 6.7.0
|
||
01=Critical Warning
|
||
02=Composite Temperature
|
||
03=Available Spare
|
||
04=Available Spare Threshold
|
||
05=Percentage Used
|
||
06=Data Units Read
|
||
07=Data Units Written
|
||
08=Host Read Commands
|
||
09=Host Write Commands
|
||
0A=Controller Busy Time
|
||
0B=Power Cycles
|
||
0C=Power On Hours
|
||
0D=Unsafe Shutdowns
|
||
0E=Media and Data Integrity Errors
|
||
0F=Number of Error Information Log Entries |